UV-M紫外輻照計適用于殺菌、光刻、固化、紫外光源、探傷、材料老化、水處理、醫(yī)療、育種等領域的紫外輻照度測量工作。使用環(huán)境：溫度（20±20）℃；濕度80%

UV-365便攜式紫外線強度計（雙通道）采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

便攜式紫外線強度計UV-313采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

紫外輻照計UV-A采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

便攜式紫外線強度計UV-B采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。便攜式紫外線強度計適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。便攜式紫外線強度計廣泛運用衛(wèi)生監(jiān)督。